DFT : Design For Testability
TTR :Test Time Reduction
KGD: Known Good Die
NAND Flash 芯片测试主要是为了筛选(Screen Out)出Flash阵列、译码器、寄存器的失效。
测试流程(Test Flow)
从wafer level,到singl…
存储器按照存储介质来划分,可以分为半导体存储器和磁表面存储器。半导体存储器是由半导体器件组成的,主要包括随机存储器(RAM:Random Access Memory)、只读存储器(ROM:Read Only Memory…
可以看easyflash下的docs文档,万一你们手头没有文档呢。这里我就直接黏贴了。
API 说明文档: docs/zh/api.md 通用移植文档: docs/zh/port.md
EasyFlash API 说明 所有支持的API接口都在\easyflash\inc\easyflash.h中声明。以下内容较多&am…